晓INSIGHT 镀层分析仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑,照射在样品位置,从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号,通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号,得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析,是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。
INSIGHT镀层测厚仪是一款集成高精度X射线荧光(XRF)技术与智能分析系统的桌面式检测设备,专为金属/非金属基材上的单层及多层镀层厚度测量与成分分析设计。其采用上照式设计,搭载XY平台,外观紧凑,具有无损检测、易于操作、分析快速、检测精准等特点,可快速对常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测。INSIGHT 镀层测厚仪凭借其卓越的性能,广泛应用于珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等多个领域,助力企业确保产品质量,增强市场竞争。力。
高低大小样品可快速清晰对焦,视频图像可放大、含十字线、自动聚焦。