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  • 薄膜材料

    可应用于薄膜的反射测量、密度、厚度、粗糙度等结构信息分析。

薄膜材料

薄膜的反射测量、密度、厚度、粗糙度

反射测量、密度、厚度和粗糙度的检测对于理解薄膜的光学、物理和化学性质,以及优化薄膜制备工艺,具有重要意义。这些参数在许多应用中都是决定薄膜性能和行为的关键因素。

多晶纳米级薄膜样品的定性分析(GIXRD)

多晶纳米级薄膜是一种具有多个晶粒且晶粒尺寸在纳米级范围内的薄膜材料。这种材料在纳米科技、材料科学和工程等领域具有广泛的应用。X射线衍射(XRD)在多晶纳米级薄膜的定性分析中可以帮助确定薄膜的晶体结构类型、晶格参数以及存在的晶相。此外,还可以通过XRD分析衍射峰的宽度来估计晶粒尺寸、晶格畸变等因素,以确保对薄膜结构的定性分析准确可靠。


相关技术文章→《GIXRD应用案例——单晶硅上镀100nm的金薄膜衍射分析》

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