晓INSIGHT 镀层分析仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑,照射在样品位置,从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号,通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号,得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析,是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。
晓INSIGHT 镀层分析仪是一款上照式镀层分析仪,具有高灵敏度、非破坏性、操作简单、测试精度高、外观紧凑、节约空间等特点,不仅可用于对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品进行元素分析,还能用于镀层和镀层系统的厚度测量,实现快速测量和精准分析,广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和生产工艺控制环节,以帮客户降低物料成本,满足对应的工业标准。
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特点 | 自上而下的测量结构,XYZ测量平台,Muti-FP多层算法 |
元素范围 | Na(11)-Fm(100) |
分析层数 | 5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 |
X射线管 | 50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配) |
探测器 | Si-Pin探测器,(高灵敏度SDD探测器可选配) |
准直器 | φ0.1-φ0.5可选,多准可选 |
相机 | 高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素 |
放大倍数 | 40x-160x |
手动样品XY平台 | 移动范围:100 x 150 mm |
可编程XY平台 | (可选配) |
Z轴移动范围 | 150 mm |
样品仓尺寸 | 520×480×170mm |
外形尺寸 | 624×702×730mm |
重量 | 120kg |
电源 | AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) |
额定功率 | 150W |